[发明专利]基于探测器温度漂移模型的无挡片红外测温方法有效

专利信息
申请号: 202010780258.3 申请日: 2020-08-05
公开(公告)号: CN112050948B 公开(公告)日: 2021-12-03
发明(设计)人: 张程硕;陈果;徐保树;刘召军;陈旭东;史志跃 申请(专利权)人: 沈阳上博智像科技有限公司
主分类号: G01J5/10 分类号: G01J5/10
代理公司: 沈阳友和欣知识产权代理事务所(普通合伙) 21254 代理人: 杨群
地址: 110000 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明属于红外成像测温技术领域,具体涉及一种基于探测器温度漂移模型的无挡片红外测温方法。采用近距离扩展源法进行定标,在数据处理方面采用基于红外辐射定律模型的拟合曲线法,同时为了提高测量精度,采用分段拟合,并提出探测器温度漂移模型实现消除环境辐射、红外探测器靶面温度因素对测温精度与稳定性的影响。通过将探测器放到恒温箱,调整探测器环境温度,获得不同镜筒温度、探测器靶面温度下的黑体图像,建立每一个像元镜筒温度‑靶面温度‑灰度变化曲线。随后改变黑体温度,进行近距离拓展源标定,并根据物理模型提出一种基于探测器温度漂移模型的无挡片红外测温方法。
搜索关键词: 基于 探测器 温度 漂移 模型 无挡片 红外 测温 方法
【主权项】:
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