[发明专利]线损测试方法、综测仪和存储介质有效
| 申请号： | 202010782027.6 | 申请日： | 2020-08-06 |
| 公开（公告）号： | CN113419189B | 公开（公告）日： | 2022-02-22 |
| 发明（设计）人： | 徐逢春 | 申请（专利权）人： | 为准(北京)电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/52 | 分类号： | G01R31/52;G01R31/54;H04B17/10;H04B17/29 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 许静;黄灿 |
| 地址： | 100012 北京市朝*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种线损测试方法、综测仪和存储介质，所述方法包括如下步骤：在综测仪与测试板通过测试线连接的情况下，向测试板发送第一矢量信号；接收测试板基于第一矢量信号发送的第二矢量信号和第三矢量信号；根据第二矢量信号和第三矢量信号，确定测试线在第一频点的线损值。这样，使用综测仪即可实现线损测试，无需使用昂贵的线损测试装置测试射频线产生的线损，以此降低了线损测试的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 综测仪 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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