[发明专利]处理工具以及处理晶片的方法在审

专利信息
申请号: 202010783248.5 申请日: 2020-08-06
公开(公告)号: CN113346035A 公开(公告)日: 2021-09-03
发明(设计)人: 刘丙寅;蔡嘉雄;黄信华;张宇行;林勇志 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L51/56 分类号: H01L51/56;H01L21/67;H01L21/68;H01L21/687
代理公司: 南京正联知识产权代理有限公司 32243 代理人: 王素琴
地址: 中国台湾新竹科*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 本公开涉及一种处理工具,所述处理工具包括第一晶片安装框架及第二晶片安装框架。第一晶片安装框架被配置成固持目标晶片。第二晶片安装框架被配置成固持掩蔽晶片。掩蔽晶片包括由穿过掩蔽晶片的多个开口构成的掩模图案以对应于将形成在目标晶片上的预定沉积图案。沉积室被配置成当第一晶片安装框架与第二晶片安装框架夹持在一起以固持目标晶片及掩蔽晶片时接纳第一晶片安装框架及第二晶片安装框架。沉积室包括材料沉积源,所述材料沉积源被配置成通过掩模图案中的所述多个开口从材料沉积源沉积材料,以在目标晶片上以预定沉积图案形成材料。
搜索关键词: 处理 工具 以及 晶片 方法
【主权项】:
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