[发明专利]一种金相试样磨抛夹具

摘要

本发明公开了一种金相试样磨抛夹具，包括底座、夹持机构以及支架滑轨，底座中间空心，磨抛盘设于底座空心处，支架滑轨固设于底座上靠近空心处的位置，夹持机构包括滑杆，滑杆上设有夹持孔，滑杆可沿支架滑轨上下移动，夹持孔设有夹持件，夹持件用于夹持金相试样，夹持件可在夹持孔内旋转以调整夹持试样的磨抛方向。该夹具在磨抛过程中，可以随时改变金相试样的磨抛方向，可以有效的减小试样金相面上的划痕、麻点，避免过磨抛现象，从而有效地提高试样的金相质量。该夹具可有效对金相试样进行夹持，还可调节金相试样的夹持高度，释放了操作人员的双手。