[发明专利]一种元器件测试方法、装置及系统在审
| 申请号： | 202010787010.X | 申请日： | 2020-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN112098769A | 公开（公告）日： | 2020-12-18 |
| 发明（设计）人： | 戴莹;桑作钧;李迎昕;申丽丽;尚玉凤 | 申请（专利权）人： | 中国人民解放军海军七0一工厂 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 张雪梅 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种元器件测试方法、装置及系统，该元器件测试方法包括：显示单元显示应用界面，应用界面包括第一区域、第二区域和第三区域，其中，第一区域包括设备选择控件和测试参数控件，第二区域包括当前测试结果显示控件和测试启动控件，第三区域包括历史测试结果显示控件、测试重测控件和测试停止控件；处理单元响应于用户对各区域中的不同控件的操作执行相应的工作；报警单元基于测试结果选择是否合格进行选择性报警，本申请的元器件测试方法该方法通过编程完成仪表的设置操作，降低人员设置过程中的失误，快速形成生产能力，该方法有效提高各类元器件测试工作效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 元器件 测试 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
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