[发明专利]一种SF6火花放电分解杂质分析方法及装置在审
| 申请号： | 202010789104.0 | 申请日： | 2020-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN111916157A | 公开（公告）日： | 2020-11-10 |
| 发明（设计）人： | 苗玉龙;姚强;张施令;邱妮;杨华夏 | 申请（专利权）人： | 国网重庆市电力公司电力科学研究院;国家电网有限公司 |
| 主分类号： | G16C20/20 | 分类号： | G16C20/20;G16C20/10;G16C20/70 |
| 代理公司： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人： | 贺春林 |
| 地址： | 401123 重庆市渝北*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种SF6火花放电分解杂质分析方法及装置，其中方法包括：通过预先确定的拟合模型对SF6分解组分产量与杂质含量之间的关联模型进行拟合，获取拟合参数，其中，所述关联模型基于预先确定的SF6火花放电分解产物和反应物之间的关联关系确定；根据所述拟合参数对所述关联模型进行校正，以获得校正模型；基于所述校正模型确定SF6火花放电分解的杂质含量，本发明方法建立了SF6火花放电分解杂质的数学模型，实现了对SF6火花放电的定量分析。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 sf6 火花放电 分解 杂质 分析 方法 装置 | ||
【主权项】：
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