[发明专利]一种贴片电容内部暗裂的检测方法有效
| 申请号： | 202010791921.X | 申请日： | 2020-08-08 |
| 公开（公告）号： | CN111982914B | 公开（公告）日： | 2023-03-21 |
| 发明（设计）人： | 李志雄;张娜娜 | 申请（专利权）人： | 深圳市鹏达诚科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88;G01N21/01;G01N1/28 |
| 代理公司： | 深圳市众元信科专利代理有限公司 44757 | 代理人： | 王宣玲 |
| 地址： | 518109 广东省深圳市龙华区福城街道大*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种贴片电容内部暗裂的检测方法，包括以下步骤：S1、选取贴片电容除长度方向的两个端面以外的四个侧面，以两个为一组作为研磨面；S2、将贴片电容放置在定位夹持机构上，通过定位夹持机构夹住贴片电容长度方向的两个端面，将贴片电容稳定固定，并将其任意两个相对侧面暴露出来，此贴片电容内部暗裂的检测方法，区别于现有技术，进而在实时使用过程中，省去了贴片电容镶嵌的时间，并有效避免了单面研磨的弊端，且贴片电容的实时夹持固定方便，同时通过两个侧面为一组的同步研磨，更进一步的提高了贴片电容的研磨效率，从而保证了贴片电容精准且方便高效的暗裂检测使用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电容 内部 检测 方法 | ||
【主权项】：
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