[发明专利]一种基于弱磁近场探测技术的密拍摄像装置检测方法和设备

摘要

本发明提供一种基于弱磁近场探测技术的密拍摄像装置检测方法和设备。该方法包括：用前置和参考弱磁近场探头探测可疑区域或空间内的弱磁信号，将探测到的信号进行信号放大和带通滤波，再通过模数转换和时频域变换处理得到频率和幅值，综合两个近场探头探测得到的频率和幅值数据进行去噪处理，最后结合摄像装置存在的同步信号特征分析判定是否检测到密拍摄像装置，以及根据移动探测时目标信号的强弱或幅值变化确定位置。该设备主要包括弱磁近场探头、信号放大模块、带通滤波模块、信号分析模块及显示模块。本发明的探测范围基本涵盖所有类型的密拍摄像装置，探测不受角度或方向的限制，具备去噪和多重确认机制，具有更低的漏检、误检率，使用便捷。