[发明专利]一种减小宽光谱透过率测量误差的方法在审
| 申请号： | 202010793817.4 | 申请日： | 2020-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN111829971A | 公开（公告）日： | 2020-10-27 |
| 发明（设计）人： | 宋光均;吴剑峰;蒋之辉 | 申请（专利权）人： | 广州标旗光电科技发展股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31;G01N21/25;G01N21/59 |
| 代理公司： | 广州正明知识产权代理事务所(普通合伙) 44572 | 代理人： | 成姗 |
| 地址： | 510000 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及光谱测量技术领域，公开了一种减小宽光谱透过率测量误差的方法，具体是进行样品检测时，通过增强入射光全波长的光谱强度，提高测量信号，减小样品的透过率测量误差。本发明从光透过率定义出发，综合光谱仪的检测原理、发光元器件的工作原理等，无需调节光程，样品不受状态限制，固体、液体均可。通过增强入射光全波长的光谱强度，能够获取更高的样品透射信号，使得光谱仪的信噪比显著提高，从而减小了样品透过率的测量误差。本发明方法不受样品形态、光谱检测范围的限制，且操作简单，可广泛应用于多种样品类型的宽光谱检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 减小 光谱 透过 测量误差 方法 | ||
【主权项】：
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