[发明专利]暗室静区测试系统及暗室静区测试方法在审

专利信息
申请号: 202010796084.X 申请日: 2020-08-10
公开(公告)号: CN111913049A 公开(公告)日: 2020-11-10
发明(设计)人: 卜景鹏;东君伟;马向华;秦然 申请(专利权)人: 中山香山微波科技有限公司
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 深圳瑞天谨诚知识产权代理有限公司 44340 代理人: 杨龙
地址: 528437 广东省中山市火*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种暗室静区测试系统及暗室静区测试方法,测试系统包括:发射装置、接收装置、伺服机器人、以及控制装置;发射装置设于暗室远离所述静区的一端并发射测试信号;接收装置设于伺服机器人上,包括用于接收测试信号的接收天线及处理测试信号的信号处理模块;伺服机器人设于暗室静区内,并用于调整接收天线的空间位置;所述控制装置用于控制发射天线发射毫米波信号、接收并处理信号处理模块的结果、控制伺服机器人的工作状态以支持接收天线的俯仰角和方位角调节及在对应俯仰角和方位角下在X轴、Y轴、Z轴三个轴向上行进并接收信号。该测试系统轻便、便于携带,可为有需要客户提供上门服务。
搜索关键词: 暗室 测试 系统 方法
【主权项】:
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