[发明专利]产品残留类缺陷的短路检测方法及系统及缺陷分类系统有效

专利信息
申请号: 202010796484.0 申请日: 2020-08-10
公开(公告)号: CN111932515B 公开(公告)日: 2022-04-29
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 成都数之联科技股份有限公司
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/11;G06T7/62;G06T7/136;G06V10/764;G06K9/62
代理公司: 成都云纵知识产权代理事务所(普通合伙) 51316 代理人: 熊曦;陈婉鹃
地址: 610042 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种产品残留类缺陷的短路检测方法及系统及缺陷分类系统,涉及智能制造与人工智能技术领域,本发明利用缺陷区域内特征的等级轮廓关系,判断缺陷区域内是否存在像素区域内的短路现象,本发明能够放大缺陷区域得到标准区域,并判断标准区域内是否存在像素区域内的短路现象,本发明能够判断是否发生跨像素区域短路;本发明能够检测残留类缺陷是否造成短路,以及分析造成何种短路,大幅提升ADC模型对于特定短路缺陷的识别准确率。
搜索关键词: 产品 残留 缺陷 短路 检测 方法 系统 分类
【主权项】:
暂无信息
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