[发明专利]一种光热反射测温方法及装置有效

专利信息
申请号: 202010797316.3 申请日: 2020-08-10
公开(公告)号: CN112097949B 公开(公告)日: 2022-08-02
发明(设计)人: 翟玉卫;刘岩;李灏;乔玉娥;吴爱华;丁晨;刘霞美 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
主分类号: G01K11/00 分类号: G01K11/00
代理公司: 石家庄国为知识产权事务所 13120 代理人: 祁静
地址: 050051 *** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明适用于微电子测温技术领域,提供了一种光热反射测温方法及装置,所述方法包括:控制被测件处于预设初始温度,采集被测件此时的反射率,得到第一反射率;控制被测件的温度升高ΔT0,在被测件温度改变的同时向被测件通入电流,温度稳定后采集通电被测件的反射率,得到第二反射率;控制通电被测件的温度降低ΔT0,温度稳定后采集通电被测件的反射率,得到第三反射率;基于第一反射率、第二反射率和第三反射率确定被测件的温度变化量。本发明能够一次性测量被测件的温度变化量,节省电流周期性变化时等待被测件温度稳定所需的时间,提高测量效率。
搜索关键词: 一种 光热 反射 测温 方法 装置
【主权项】:
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