[发明专利]颗粒物监测仪、综合监测系统及颗粒物监测校准方法在审
| 申请号： | 202010798451.X | 申请日： | 2020-08-10 |
| 公开（公告）号： | CN111812003A | 公开（公告）日： | 2020-10-23 |
| 发明（设计）人： | 姬红波;张耀阳;张雪峰 | 申请（专利权）人： | 华电智控（北京）技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/06 | 分类号： | G01N15/06 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 郭金鑫 |
| 地址： | 100000 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种颗粒物监测仪、综合监测系统及颗粒物监测校准方法，涉及环境监测技术领域，本发明提供的颗粒物监测仪，包括：β射线检测组件、光散射法检测组件和控制器，β射线检测组件和光散射法检测组件分别与控制器连接；控制器配置为根据β射线检测组件的检测结果对光散射法检测组件检测的结果进行校验。本发明提供的颗粒物监测仪，可以结合β射线法和光散射法检测颗粒物浓度，且提高了检测精度和检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 颗粒 监测 综合 系统 校准 方法 | ||
【主权项】：
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