[发明专利]半导体器件的制备方法有效
| 申请号： | 202010802312.X | 申请日： | 2020-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN111916393B | 公开（公告）日： | 2022-04-15 |
| 发明（设计）人： | 韩瑞津;曾辉 | 申请（专利权）人： | 广州粤芯半导体技术有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/768 | 分类号： | H01L21/768 |
| 代理公司： | 上海思捷知识产权代理有限公司 31295 | 代理人： | 王宏婧 |
| 地址： | 510000 广东省广州市中新广州*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种半导体器件的制备方法，将氢钝化工艺调整到第一钝化层上形成第二钝化层之后，图案化所述第二钝化层及所述第一钝化层之前，在进行氢钝化工艺时，顶层金属互联层被第一钝化层及第二钝化层覆盖，第一钝化层及第二钝化层可以在氢钝化工艺的升降温过程中充分抑制顶层金属互联层因热膨胀系数差导致应力失配进而引起的热应变，防止顶层金属互联层产生丘形缺陷，避免顶层金属互联层与封装引线的电连接不牢固，防止因丘形缺陷导致膜内空洞，避免顶层金属互联层与下方的导电过孔之间拉应力，最大限度地保证了互联结构的电阻完整性，提高了器件的成品率及可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体器件 制备 方法 | ||
【主权项】：
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
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