[发明专利]一种优化光学邻近效应修正中曝光辅助图形的方法有效

专利信息
申请号: 202010802375.5 申请日: 2020-08-11
公开(公告)号: CN111812940B 公开(公告)日: 2023-04-28
发明(设计)人: 付欣欣;于世瑞 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: G03F1/36 分类号: G03F1/36;G03F7/20
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 曹廷廷
地址: 201315*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种优化OPC中曝光辅助图形的方法,主要包括:生成光阻模型,在待优化的曝光图形中增加曝光辅助图形,并对比增加前后的曝光图形的中心光强极值、对比度和曝光关键尺寸;若满足条件,则对比曝光辅助图形的中心光强极值和曝光图形的成像阈值,若满足条件,则输出曝光辅助图形的设置规则。通过对比增加曝光辅助图形前后的曝光图形的中心光强极值、对比度和曝光关键尺寸可以筛选出对曝光图形曝光有益的曝光辅助图形的设置规则;对比曝光辅助图形的中心光强极值和曝光图形的成像阈值可以确保曝光辅助图形不会成像。通过简单的计算就可以将符合要求的曝光辅助图形规则提取出来,解决了现有技术中曝光辅助图形规则不易提取且计算量大的问题。
搜索关键词: 一种 优化 光学 邻近 效应 修正 曝光 辅助 图形 方法
【主权项】:
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