[发明专利]光纤时域反射仪OTDR、测试系统、测试方法及存储介质有效
申请号: | 202010803061.7 | 申请日: | 2020-08-11 |
公开(公告)号: | CN112054839B | 公开(公告)日: | 2022-06-10 |
发明(设计)人: | 张翠红;张建涛;叶知隽;熊涛 | 申请(专利权)人: | 武汉光迅科技股份有限公司 |
主分类号: | H04B10/071 | 分类号: | H04B10/071;H04B10/25;H04B10/2575 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 张李静;张颖玲 |
地址: | 430074 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供了一种光纤时域反射仪OTDR、测试系统、测试方法及存储介质;包括:输入端,用于接收输入的业务光信号;第一滤波器,与输入端相连,用于过滤业务光信号中波长等于OTDR的测试波长的干扰信号;波分复用WDM器,具有反射端、透射端及输出端;OTDR基本单元,与透射端连接,用于发射等于测试波长的OTDR信号,并接收OTDR信号的返回信号;WDM器的输出端,用于输出从反射端接收的过滤后的业务光信号,并输出从透射端接收的OTDR信号,并接收从光纤返回的返回信号。 | ||
搜索关键词: | 光纤 时域 反射 otdr 测试 系统 方法 存储 介质 | ||
【主权项】:
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