[发明专利]用于测试被测器件的方法以及使用其的装置在审
| 申请号： | 202010812831.4 | 申请日： | 2020-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN113253008A | 公开（公告）日： | 2021-08-13 |
| 发明（设计）人： | 金秉圭;金秉润 | 申请（专利权）人： | 普适福了有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人： | 许伟群;阮爱青 |
| 地址： | 韩国首*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请公开了一种用于测试被测器件的方法以及使用其的装置。本发明涉及用于测试被测器件(DUT)的测试装置，该装置以比DUT的运行频率低的运行频率来运行。测试装置包括：时钟源，其根据测试装置的运行频率来生成时钟；时钟乘法器，其被配置为将所生成的时钟乘以根据DUT的运行频率而设置的乘数，并输出用于DUT的第一时钟；相位转换器，其被配置为根据乘数来将所生成的时钟的相位进行移位并输出具有不同相位的多个第二时钟；以及测试模式比较器，其被配置为通过顺序地施加具有不同相位的多个第二时钟来从DUT顺序地收集数据段。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 器件 方法 以及 使用 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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