[发明专利]基于射频直接采样的SOC芯片采样率选择方法及装置有效

专利信息
申请号: 202010813713.5 申请日: 2020-08-13
公开(公告)号: CN111988050B 公开(公告)日: 2021-10-19
发明(设计)人: 朱家兵;陈亮;陈明生;沈晓波;陈帅;束仁义;蔡俊;蔡佳楠 申请(专利权)人: 淮南师范学院
主分类号: H04B1/10 分类号: H04B1/10;H04B1/16;G01S19/24
代理公司: 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 代理人: 丁瑞瑞
地址: 232046 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了基于射频直接采样的SOC芯片采样率选择方法及装置,所述方法包括:根据BD2、GPS、GALILEO和GLONASS四系统中的民用信号定义选取信号带宽;设置采样频率约束条件,根据采样频率约束条件选取采样频率,利用欠采样方法进行采样;采样频率约束条件为:不同导航信号的信号带宽不能交叠或重叠;采样频率是码钟频且都是1.023Mbps的整数倍;采样频率小于系统动态需求的低功耗SAR结构ADC的采样率最大值;导航信号频谱折叠在0.1fs–0.4fs之间;采样频率的选择使得导航信号折叠的次数少;采样频率满足公式fs≥2(f2‑f1)MHz;本发明的优点在于:对射频直接采样频率选择进行优化。
搜索关键词: 基于 射频 直接 采样 soc 芯片 采样率 选择 方法 装置
【主权项】:
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