[发明专利]基于分割+决策的二阶段残差注意力网络的导光板缺陷检测方法在审
| 申请号： | 202010814606.4 | 申请日： | 2020-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN112233059A | 公开（公告）日： | 2021-01-15 |
| 发明（设计）人： | 李俊峰;李兆攀;王昊 | 申请（专利权）人： | 浙江理工大学 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06N3/08;G06N3/04;G06K9/62 |
| 代理公司： | 杭州中成专利事务所有限公司 33212 | 代理人： | 金祺 |
| 地址： | 310018 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于“分割+决策”的二阶段残差注意力网络的导光板缺陷检测方法，包括以下步骤：步骤1、导光板图像采集；步骤2、导光板图像预处理；步骤3、建立并训练、测试“分割+决策”的二阶段残差注意力网络，包括分割子网和决策子网，然后保存并输出训练好的“分割+决策”的二阶段残差注意力网络；步骤4、使用训练好的“分割+决策”的二阶段残差注意力网络进行缺陷检测，并获得结果。采用本发明的方法，能实现从采集的导光板图像中快速、准确的分辨出导光板上的划痕或缺陷的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 分割 决策 阶段 注意力 网络 导光板 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
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