[发明专利]一种双波长激光三维形貌扫描装置及方法在审
| 申请号： | 202010816588.3 | 申请日： | 2020-08-14 |
| 公开（公告）号： | CN111947594A | 公开（公告）日： | 2020-11-17 |
| 发明（设计）人： | 张东升;余镇杨;苏志龙 | 申请（专利权）人： | 上海大学 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 苏士莹 |
| 地址： | 200444*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开一种双波长激光三维形貌扫描装置及方法，涉及光学三维测量技术领域，装置包括激光测量单元、平移机构和控制系统，所述控制系统与所述激光测量单元以及所述平移机构电连接；所述平移机构上用于放置待测物体，所述平移机构用于带动所述待测物体移动；所述激光测量单元包括双波长激光发射器和成像装置，所述双波长激光发射器用于发射对称布置的且波长不同的两束激光，所述成像装置用于采集图像，并将图像数据传递给所述控制系统。本发明通过采用双波长、双激光测量光路，对平移机构带动下的待测物体进行表面形貌测量，从而使得光束能够全方位照射到待测物体表面，进而获得物体表面的三维结构信息。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 波长 激光 三维 形貌 扫描 装置 方法 | ||
【主权项】：
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