[发明专利]半导体零部件、复合涂层形成方法和等离子体反应装置在审

专利信息
申请号: 202010819097.4 申请日: 2020-08-14
公开(公告)号: CN114078679A 公开(公告)日: 2022-02-22
发明(设计)人: 段蛟;孙祥;杨桂林;陈星建 申请(专利权)人: 中微半导体设备(上海)股份有限公司
主分类号: H01J37/32 分类号: H01J37/32;H01L21/67
代理公司: 深圳中创智财知识产权代理有限公司 44553 代理人: 文言;田宇
地址: 200120 上海市浦东新*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及等离子体刻蚀的技术领域,公开了一种半导体零部件、复合涂层形成方法和等离子体反应装置,包括零部件本体,所述零部件本体表面具有复合涂层,所述复合涂层包括耐等离子体腐蚀涂层和防水牺牲层,所述耐等离子体腐蚀涂层设置于所述零部件本体表面;所述防水牺牲层设置于所述耐等离子体腐蚀涂层表面。在耐等离子体腐蚀涂层的表面涂覆一层防水牺牲层,避免耐等离子体腐蚀涂层与水接触,大大降低耐腐蚀涂层因水解失效的风险,可缩减清洗、运输、储存或投入使用的时间,大大提高等离子体刻蚀生产的效率,降低刻蚀成本。
搜索关键词: 半导体 零部件 复合 涂层 形成 方法 等离子体 反应 装置
【主权项】:
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