[发明专利]一种基于FPGA的电路模块测试方法有效
| 申请号： | 202010826182.3 | 申请日： | 2020-08-17 |
| 公开（公告）号： | CN112034331B | 公开（公告）日： | 2023-04-18 |
| 发明（设计）人： | 周婧;王硕;陈雷;庞永江;马筱婧;席培培;董晗;张璐;杜忠 | 申请（专利权）人： | 北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317;G01R31/319 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 茹阿昌 |
| 地址： | 100076 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种基于FPGA的电路模块测试方法，包括步骤：1)获取目标电路模块的电路网表；2)获取测试电路模块的电路网表；3)根据目标电路模块的电路网表和测试电路模块的电路网表生成整体电路模块的电路网表，具体为：将测试电路模块的测试端口对应连接到目标电路模块的硬宏单元上，同时删除测试电路模块对应的硬宏单元；或将目标电路模块的测试端口对应连接到测试电路模块的硬宏单元上，同时删除目标电路模块对应的硬宏单元；4)使用步骤3)获得的整体电路模块的电路网表，对所述目标电路模块进行测试。本发明模拟了FPGA中IP核等电路模块通常作为整体电路的一部分的真实使用环境，从而使测试结果更准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 fpga 电路 模块 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所，未经北京时代民芯科技有限公司;北京微电子技术研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010826182.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
