[发明专利]一种中子-γ射线联合探测装置及方法在审

专利信息
申请号: 202010828589.X 申请日: 2020-08-17
公开(公告)号: CN111781632A 公开(公告)日: 2020-10-16
发明(设计)人: 王栋;张传飞;司粉妮;蔡易平;席志国;杨彪;彭星宇;朱学彬;王立宗;胡青元 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所
主分类号: G01T3/00 分类号: G01T3/00;G01T1/16
代理公司: 中国工程物理研究院专利中心 51210 代理人: 张晓林
地址: 621999 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提出一种中子‑γ射线联合探测装置及中子‑γ射线联合探测方法,所述的探测装置包括真空腔外壳、中子测量单元和γ射线测量单元,本发明的探测方法通过从中子测量单元输出的混合信号中扣除γ射线测量单元输出的γ信号,得到净中子信号。本发明可实现中子、γ混合辐射场中中子和γ射线的联合测量,即利用一个探测器,同时实现中子和γ射线的测量。
搜索关键词: 一种 中子 射线 联合 探测 装置 方法
【主权项】:
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