[发明专利]一种高速等离子体鞘套频谱调制特性测量装置在审

专利信息
申请号: 202010828781.9 申请日: 2020-08-18
公开(公告)号: CN111965435A 公开(公告)日: 2020-11-20
发明(设计)人: 邓浩川;吴洋;满良;张良聪;冯雪健 申请(专利权)人: 北京环境特性研究所
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 北京格允知识产权代理有限公司 11609 代理人: 周娇娇
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种高速等离子体鞘套频谱调制特性测量装置,包括透波模型、发射天线和接收天线,发射天线置于透波模型内,接收天线置于透波模型外部且位于发射天线正下方,其中透波模型位于高焓气流内部,透波模型头部朝向高焓气流的流向,接收天线置于高焓气流外,本发明具有可实现对高速的离子体鞘套频谱调制特性进行测量的优点。
搜索关键词: 一种 高速 等离子体 频谱 调制 特性 测量 装置
【主权项】:
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