[发明专利]基于图像差分的全球电离层电子总含量异常探测方法有效
申请号: | 202010829723.8 | 申请日: | 2020-08-18 |
公开(公告)号: | CN112085068B | 公开(公告)日: | 2022-11-01 |
发明(设计)人: | 胡伍生;余龙飞;董彦锋 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | G06V10/774 | 分类号: | G06V10/774;G06V10/82;G06N3/04 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 常虹 |
地址: | 211189 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于图像差分的全球电离层电子总含量异常探测方法,包括训练阶段和探测阶段,训练阶段包括:1、采集全球电离层电子总含量热力图,并调整水平位置,计算一次差分和二次差分序列;2、构建训练样本集;3、构建全球电离层电子总含量预测模型并训练;探测阶段包括:4、构建待探测日的GIM图时间序列并调整水平位置,计算一次差分和二次差分序列,并输入全球电离层电子总含量预报模型,对输出的预测热力图进行经度排序,作为待探测日电离层电子含量背景参考图;5、获取待探测时刻的全球电离层电子总含量实测值,计算电离层电子含量背景参考图与实测值的残差,设置异常上下界限;6、判断是否发生异常。该方法能够获得更精确的探测结果。 | ||
搜索关键词: | 基于 图像 全球 电离层 电子 含量 异常 探测 方法 | ||
【主权项】:
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