[发明专利]基于图像差分的全球电离层电子总含量异常探测方法有效

专利信息
申请号: 202010829723.8 申请日: 2020-08-18
公开(公告)号: CN112085068B 公开(公告)日: 2022-11-01
发明(设计)人: 胡伍生;余龙飞;董彦锋 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: G06V10/774 分类号: G06V10/774;G06V10/82;G06N3/04
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 常虹
地址: 211189 江*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种基于图像差分的全球电离层电子总含量异常探测方法,包括训练阶段和探测阶段,训练阶段包括:1、采集全球电离层电子总含量热力图,并调整水平位置,计算一次差分和二次差分序列;2、构建训练样本集;3、构建全球电离层电子总含量预测模型并训练;探测阶段包括:4、构建待探测日的GIM图时间序列并调整水平位置,计算一次差分和二次差分序列,并输入全球电离层电子总含量预报模型,对输出的预测热力图进行经度排序,作为待探测日电离层电子含量背景参考图;5、获取待探测时刻的全球电离层电子总含量实测值,计算电离层电子含量背景参考图与实测值的残差,设置异常上下界限;6、判断是否发生异常。该方法能够获得更精确的探测结果。
搜索关键词: 基于 图像 全球 电离层 电子 含量 异常 探测 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东南大学,未经东南大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010829723.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

同类专利
专利分类
×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top