[发明专利]一种MCU芯片电磁兼容测试电路在审
| 申请号： | 202010834136.8 | 申请日： | 2020-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN112649681A | 公开（公告）日： | 2021-04-13 |
| 发明（设计）人： | 任军;李政达 | 申请（专利权）人： | 合肥恒烁半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京化育知识产权代理有限公司 11833 | 代理人： | 尹均利 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市庐阳区天水*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种MCU芯片电磁兼容测试电路，包括测试单元，用于待测MCU芯片U1的测试；所述测试单元包括测试主板，所述测试主板上设有待测MCU芯片的固定安装位，待测MCU芯片安装在待测MCU芯片固定安装位上，测试主板上设有与待测MCU芯片连接的外围电路，测试主板对应待测MCU芯片设有考察距离变量的一体式电磁兼容测试单元；本发明提供一种MCU芯片电磁兼容测试电路，结构设置巧妙且布置合理，本发明中；工作时，通过考察距离变量的电磁兼容测试单元对待测MCU芯片进行不同距离的电磁兼容测试，测试活动待测MCU芯片的电磁兼容性的安全距离，另外本发明设计一体式的电磁兼容测试单元对MCU芯片进行辐射测试和抗干扰测试，提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 mcu 芯片 电磁 兼容 测试 电路 | ||
【主权项】：
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