[发明专利]气体密度继电器的接点温度补偿校验装置及校验方法在审

专利信息
申请号: 202010836501.9 申请日: 2020-08-19
公开(公告)号: CN111983441A 公开(公告)日: 2020-11-24
发明(设计)人: 李志刚;蔡巍;金海勇;龙凯华;徐党国;孙云生;宁琳如;秦逸帆;李帆;卢毅 申请(专利权)人: 国网冀北电力有限公司电力科学研究院;华北电力科学研究院有限责任公司;上海乐研电气有限公司;国家电网有限公司;国网冀北电力有限公司
主分类号: G01R31/327 分类号: G01R31/327;G01R1/02;G01R1/04
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 刘飞;周达
地址: 100045 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本说明书提供了一种气体密度继电器的接点温度补偿校验装置及校验方法,该装置包括:恒温箱,用于提供指定温度的恒温环境;密封气室置于恒温箱内,用于使位于其内的校验气体与恒温箱热交换,并在热平衡后提供给与其连接且置于恒温箱内的样品;压力调节器,与密封气室连接,用于调节样品的气体压力,以使样品发生接点动作或接点复位;第一阀,置于密封气室与压力调节器的连接管路上;压力传感器用于采集样品的气体压力;控制处理单元,用于在样品发生接点动作或接点复位时,使第一阀关闭,使恒温箱将样品的气体温度调至指定常温,获取压力传感器在指定常温下采集的气体压力并处理。本说明书可提高气体密度继电器接点校验的准确度。
搜索关键词: 气体 密度 继电器 接点 温度 补偿 校验 装置 方法
【主权项】:
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