[发明专利]高通量抗电磁干扰质子能谱和强度探测器在审
申请号: | 202010839268.X | 申请日: | 2020-08-19 |
公开(公告)号: | CN112099072A | 公开(公告)日: | 2020-12-18 |
发明(设计)人: | 符长波;唐琦;方德清;魏宝仁 | 申请(专利权)人: | 复旦大学;中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
主分类号: | G01T1/20 | 分类号: | G01T1/20;G01T1/36 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陆飞;陆尤 |
地址: | 200433 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明属于物理实验辐射探测技术领域,具体为一种高通量抗电磁干扰质子能谱和强度探测器。本发明探测器包括:闪烁体、光纤耦合锥、传输光纤、光纤分光器、门控光电倍增管、数字化仪和数据存储系统。其物理过程是:高通量离子轰击闪烁体后产生闪烁光,经光纤耦合锥耦合至光纤;此后闪烁光经光纤传输至远端,并耦合到门控光电倍增管上;在门信号控制下,门控光电倍增管可避开零时刻高强电磁脉冲并把光信号转化为电脉冲信号;数字化仪把电脉冲信号转化为数字后输入计算机进行记录存储。该探测器可以用于强电磁脉冲可能致盲传统探测器系统的场合,以及各种复杂电磁环境下,测量各种高通量离子,具备抗电磁干扰性能强、接收质子通量大等特点。 | ||
搜索关键词: | 通量 电磁 干扰 质子 强度 探测器 | ||
【主权项】:
暂无信息
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