[发明专利]测量系统的系统误差自检校方法、装置、设备和介质

摘要

本发明提供的一种所述测量系统的系统误差自检校方法、装置、设备及计算机存储介质，所述方法包括构建基于Gauss‑Helmert并顾及随机误差的系统误差自检校模型，获取该模型中未知参数向量的初始值和随机误差向量的初始值，以及同名点的观测值，采用非线性最小二乘理论及牛顿‑高斯方法对所述未知参数向量和所述随机误差向量迭代求解，获得满足预设收敛条件的所述未知参数向量的最终解算值，从而获取测量系统的系统误差参数，有效提高了测量系统中的系统误差参数的解算精度；此外，本发明所述方法还可以通过方差分量估计方法，实现在先验信息错误或先验信息未知情况下的验后估计，有效确保系统误差参数的求解精度。