[发明专利]一种电磁辐射分析仪计量评测的装置、方法及应用有效

专利信息
申请号: 202010846421.1 申请日: 2020-08-20
公开(公告)号: CN111999689B 公开(公告)日: 2023-03-21
发明(设计)人: 周峰;袁修华;纪锐;孙景禄;孙薪棋;张颖艳;张大元;孟艾立;黄攀 申请(专利权)人: 中国信息通信研究院
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 代理人: 巴晓艳
地址: 100191 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种电磁辐射分析仪计量评测的装置、方法和应用,包括调制信号发生单元,用于产生模拟调制信号或数字调制信号;电磁辐射分析仪作为计量评测对象;连续波场强传递标准装置用于在计量中传递连续波电磁辐射的量值;电磁场单元,同时具有电场和磁场的空间,用于馈入连续波信号和调制信号;功率测量单元,用于测量电磁场单元内,连续波信号和调制信号的馈电功率,获取电磁场功率通过密度读数值;计量评测单元,通过连续波信号的馈电功率和电磁场功率通过密度读数值,对调制信号进行分类,根据分类结果,对调制信号的电磁场功率通过密度读数值和电磁场功率通过密度标准值进行对照,实现电磁辐射分析仪的计量评测。
搜索关键词: 一种 电磁辐射 分析 计量 评测 装置 方法 应用
【主权项】:
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