[发明专利]一种基于径向光栅辐数检测涡旋光束拓扑荷数的装置在审
| 申请号： | 202010854382.X | 申请日： | 2020-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN111811668A | 公开（公告）日： | 2020-10-23 |
| 发明（设计）人： | 张浩然;李劲松;陈越洋;徐阳 | 申请（专利权）人： | 中国计量大学 |
| 主分类号： | G01J11/00 | 分类号： | G01J11/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310018 浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于径向光栅辐数测量涡旋光束拓扑荷的装置，本发明的核心元件是内含辐数为2至20的径向光栅升降装置，可以依次将不同辐数的径向光栅降落至光路平台，恰使待测涡旋光束通过。待测涡旋光束入射到径向光栅升降装置中，经过下落的径向光栅后，其后方电荷耦合器件接收衍射图样并在计算机中显现。通过观察衍射图样中光轴部分的亮点存在与否来对涡旋光束拓扑荷进行检测。不同于传统的拓扑荷检测装置，本发明不需要引入额外的参考光束，观察衍射图样非常直观，而且对于拓扑荷的数量判断更为准确，迅速。测量装置简洁易于操作。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 径向 光栅 检测 涡旋 光束 拓扑 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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