[发明专利]孔隙结构试样表层孔隙识别装置及使用方法及修补方法有效
| 申请号： | 202010855415.2 | 申请日： | 2020-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN111999229B | 公开（公告）日： | 2022-09-06 |
| 发明（设计）人： | 崔洁;李平;张友良;江权;刘国锋 | 申请（专利权）人： | 海南大学 |
| 主分类号： | G01N15/08 | 分类号： | G01N15/08;G01N3/12;G01N1/28 |
| 代理公司： | 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 | 代理人： | 张泽锋 |
| 地址： | 570228 海南省*** | 国省代码： | 海南;46 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了孔隙结构试样表层孔隙识别装置及使用方法及修补方法，该识别装置包括检测模块和试样安装模块，所述检测模块与试样安装模块连接，待检测的试样可转动的安装于试样安装模块，所述检测模块包括电磁升降单元和探针单元，所述探针单元安装于电磁升降单元。通过电磁升降单元带动探针单元上下移动，同时试样在试样安装模块上旋转，从而可以对试样进行全方位的检测和识别。 | ||
| 搜索关键词： | 孔隙 结构 试样 表层 识别 装置 使用方法 修补 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于海南大学，未经海南大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010855415.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
