[发明专利]一种检测叠片裸电芯片数合格的方法在审
| 申请号： | 202010857713.5 | 申请日： | 2020-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN112393792A | 公开（公告）日： | 2021-02-23 |
| 发明（设计）人： | 张志剑;饶绍建;李凡群;刘涛;宋明 | 申请（专利权）人： | 万向一二三股份公司;万向集团公司 |
| 主分类号： | G01G19/42 | 分类号： | G01G19/42;G06M1/272 |
| 代理公司： | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人： | 尉伟敏 |
| 地址： | 311215 浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种检测叠片裸电芯片数合格的方法，采用X‑ray检测结合裸电芯称重法，X‑ray检测采用特定压力夹持裸电芯，特定角度拍摄的方法，利用正极片质量较重的特点，采用裸电芯称重比对裸电芯规格值的方法，有效控制正极片多片少片问题，结合X‑ray检测，实现优势互补，控制极片数量。本发明完全解决叠片电池极片数量控制的问题，完全避免叠片电芯的多片少片问题，增强过程控制，有效避免极片平整度差、极片相互粘连、电芯尺寸较大对图像质量的影响，便于计算机分析计算，降低对X‑ray分析软件的算法要求，保证计算结果的准确性；利用正极片质量较重的特点，采用裸电芯称重比对裸电芯规格值的方法，有效控制正极片多片少片问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 叠片裸电 芯片 合格 方法 | ||
【主权项】：
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