[发明专利]一种应用于大尺寸扫描测量仪器校准的曲面标准装置有效

专利信息
申请号: 202010860100.7 申请日: 2020-08-24
公开(公告)号: CN111964607B 公开(公告)日: 2021-08-31
发明(设计)人: 孙安斌;王继虎;乔磊;马骊群;曹铁泽;高廷;樊晶晶;李洋 申请(专利权)人: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01S7/497
代理公司: 北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙) 11639 代理人: 张利萍
地址: 100095*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开的一种应用于大尺寸扫描测量仪器校准的曲面标准装置,属于几何量校准领域。本发明主要由四部分组成,一是安装外部支撑框架的重型旋转台,二是安装曲面标准器的外部支撑框架,三是高精度曲面标准器,四是热涨释放组件。本发明提供可旋转的大型的曲面标准及系列参考目标,并有效的保证高精度曲面标准器在实验室温度变化允许的范围内,提供稳定的曲面实物标准及参考目标空间坐标标准,能够对大尺寸扫描测量仪器进行大型曲面轮廓测量误差校准,方便实现被校准设备在多种入射角条件下的性能评价,同时在满足入射角的要求下缩小整个校准空间。所述的大尺寸扫描测量仪器包括激光雷达、激光跟踪扫描仪、地面型扫描仪、手持式扫描仪等测量系统。
搜索关键词: 一种 应用于 尺寸 扫描 测量 仪器 校准 曲面 标准 装置
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