[发明专利]一种光源相位差测试系统及方法有效
申请号: | 202010860177.4 | 申请日: | 2020-08-25 |
公开(公告)号: | CN111740778B | 公开(公告)日: | 2020-12-04 |
发明(设计)人: | 张立华;华士跃;袁培 | 申请(专利权)人: | 北京中创为南京量子通信技术有限公司 |
主分类号: | H04B10/079 | 分类号: | H04B10/079;H04B10/70;H04L9/08;G01M11/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 211800 江苏省南京市浦*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本申请提供一种光源相位差测试系统及方法,涉及量子保密通信技术领域,所述系统包括:第一光源;第二光源;第一分束器、第二分束器、第三分束器、第四分束器、第五分束器、第六分束器,用于将两光源发出的光信号分成八路光信号;延时线,用于部分光路的延时;四分之一波片,用于改变部分光信号的相位;第七分束器、第八分束器、第九分束器、第十分束器用于将光信号先分束后干涉得到相位差信息;第一平衡零差探测器、第二平衡零差探测器、第三平衡零差探测器、第四平衡零差探测器,用于得到强度差值;处理器,用于计算两光源的相位差。本申请提供的技术方案可以顺利解决CVQKD系统中测量两光源相位差的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 光源 相位差 测试 系统 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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