[发明专利]一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202010862182.9 申请日: 2020-08-24
公开(公告)号: CN111949470A 公开(公告)日: 2020-11-17
发明(设计)人: 黄书茜 申请(专利权)人: 海光信息技术有限公司
主分类号: G06F11/26 分类号: G06F11/26
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 蒋姗
地址: 300450 天津市滨海新区华苑产*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 本申请提供一种芯片验证方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括:验证平台向芯片发送第一预设通道的第一验证请求,并强制拉取循环仲裁算法模块对应的第二预设通道的信号,以使循环仲裁算法模块接收到第一预设通道的请求和所述第二预设通道的请求;验证平台接收芯片发送的第一验证结果,第一验证结果包括循环仲裁算法模块根据当前通道信号优先级确定响应的目标通道对应的请求以及响应结果,以实现对芯片验证。本申请实施例通过上述方式能够覆盖到循环仲裁模块同时接收到多个通道发送的请求的场景,从而更加全面的对芯片进行验证。
搜索关键词: 一种 芯片 验证 方法 装置 电子设备 存储 介质
【主权项】:
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