[发明专利]高纯稀土金属钪及钪溅射靶材的制备方法在审
申请号: | 202010862193.7 | 申请日: | 2020-08-25 |
公开(公告)号: | CN111961886A | 公开(公告)日: | 2020-11-20 |
发明(设计)人: | 邓月华;樊玉川;刘华;黄美松;王志坚;黄培;刘维;杨露辉;苏正夫 | 申请(专利权)人: | 湖南稀土金属材料研究院 |
主分类号: | C22B59/00 | 分类号: | C22B59/00;C22B9/02;C23C14/34 |
代理公司: | 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 | 代理人: | 曹素云;董永辉 |
地址: | 410126 湖南省长沙*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明公开了一种高纯稀土金属钪及钪溅射靶材的制备方法。本发明将还原钪在真空碳管炉中进行多次分段蒸馏提纯,获得3N以上高纯稀土金属钪;将得到的高纯稀土金属钪采用真空悬浮熔炼,得到相应纯度的高纯稀土金属钪铸锭,然后将高纯稀土金属钪铸锭进行后处理,得到相应纯度的高纯稀土金属钪靶材。本发明能获得纯度3N以上的高纯稀土金属钪和钪溅射靶材,杂质含量可控制到:稀土杂质总含量<10ppm,Li+Na+K总含量<2ppm;靶材内部缺陷少,宏观凝固组织均匀,平均晶粒尺寸可以控制到130μm以下,甚至可控制到100μm以下,产品规格多样,满足集成电路等对于高端薄膜制备的性能要求。 | ||
搜索关键词: | 高纯 稀土金属 溅射 制备 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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