[发明专利]电光晶体薄膜的制备方法、电光晶体薄膜及电光调制器在审
申请号: | 202010865266.8 | 申请日: | 2020-08-25 |
公开(公告)号: | CN111965857A | 公开(公告)日: | 2020-11-20 |
发明(设计)人: | 张秀全;王金翠;刘桂银;李真宇;张涛;杨超 | 申请(专利权)人: | 济南晶正电子科技有限公司 |
主分类号: | G02F1/035 | 分类号: | G02F1/035;G02F1/03;G02B6/122;G02B6/136 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 逯长明;许伟群 |
地址: | 250100 山东省济南市高新区港*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本申请提供一种电光晶体薄膜的制备方法、电光晶体薄膜及电光调制器,其中,所述电光晶体薄膜的制备方法包括:准备绝缘体上硅结构,在绝缘体上硅结构的顶层硅上制备保护层前体;用刻蚀法对保护层前体和顶层硅进行刻蚀,形成保护层和硅波导层,其中刻蚀后在保护层和硅波导层中形成凹槽结构,凹槽结构的高度等于保护层厚度和硅波导层厚度之和;在凹槽结构内填充包覆隔离层,并对其进行平坦化,直至与保护层齐平;采用腐蚀的方式去除保护层,再沉积包覆隔离层,并对其平坦化;最后在包覆隔离层上制备功能薄膜层,得到电光晶体薄膜。采用前述的方案,通过保护层保护硅波导层,包覆隔离层厚度可控,表面平整,与功能薄膜层键合,不影响光信号的传播。 | ||
搜索关键词: | 电光 晶体 薄膜 制备 方法 调制器 | ||
【主权项】:
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