[发明专利]检查方法、校正方法以及检查装置在审
申请号: | 202010870767.5 | 申请日: | 2020-08-26 |
公开(公告)号: | CN112433200A | 公开(公告)日: | 2021-03-02 |
发明(设计)人: | 奈良正之 | 申请(专利权)人: | 株式会社三丰 |
主分类号: | G01S7/497 | 分类号: | G01S7/497 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种检查方法、校正方法以及检查装置。能够简单地执行对三维激光扫描仪的检查。提供包括以下步骤的检查方法、校正方法以及检查装置:通过向检查装置的第一区域照射激光,来测定第一区域中被照射了激光的第一空间位置;检查装置测定第一区域中被照射了激光的第一照射位置;通过向检查装置的第二区域照射激光,来测定第二区域中被照射了激光的第二空间位置;检查装置测定第二区域中被照射了激光的第二照射位置;以及将第一空间位置及第二空间位置的测定结果与第一照射位置及第二照射位置的测定结果进行比较。 | ||
搜索关键词: | 检查 方法 校正 以及 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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