[发明专利]大面阵红外探测器及其芯片低应力冷头结构有效
申请号: | 202010871113.4 | 申请日: | 2020-08-26 |
公开(公告)号: | CN112002773B | 公开(公告)日: | 2022-03-11 |
发明(设计)人: | 付志凯;张磊;吴卿;王成刚 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十一研究所 |
主分类号: | H01L31/024 | 分类号: | H01L31/024;H01L31/09;H01L31/101 |
代理公司: | 工业和信息化部电子专利中心 11010 | 代理人: | 罗丹 |
地址: | 100015*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种大面阵红外探测器及其芯片低应力冷头结构。大面阵红外探测器芯片低应力冷头结构,包括:杜瓦冷台;陶瓷结构件,粘接于杜瓦冷台;至少一层陶瓷框架,粘接于陶瓷结构件远离杜瓦冷台的一侧;探测器混成芯片,粘接于至少一层陶瓷框架远离陶瓷结构件的一侧。采用本发明,通过优化冷头结构,使整个结构的低温应力得到释放,保证探测器芯片的低温可靠性,可以解决大面阵探测器芯片低温下热应力集中,受温度冲击容易产生损伤的问题,同时选择框架作为电学过渡结构,可以保证探测器电学信引出。 | ||
搜索关键词: | 大面 红外探测器 及其 芯片 应力 结构 | ||
【主权项】:
暂无信息
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的