[发明专利]一种用于FP腔干涉仪相位解调的正交双腔装置及解调方法在审

专利信息
申请号: 202010871589.8 申请日: 2020-08-26
公开(公告)号: CN112097810A 公开(公告)日: 2020-12-18
发明(设计)人: 时金辉;俞本立;吴许强;光东 申请(专利权)人: 安徽大学
主分类号: G01D5/353 分类号: G01D5/353
代理公司: 合肥正则元起专利代理事务所(普通合伙) 34160 代理人: 王俊晓
地址: 230000 安徽省*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种用于FP腔干涉仪相位解调的正交双腔装置及解调方法,该装置包括激光器、光纤分束器,光环形器、光纤、正交双FP腔及光电探测器,激光器发出的激光经过光纤分束器分成两束光,光束通过光环形器传输到正交双FP腔,在正交双FP腔内光束照射在反射面上并反射回光纤,并与光纤端面的反射光发生干涉,干涉光通过光环形器传输到光电探测器上并转化为电信号;正交双FP腔结构为光纤端面发射的平行光束照射在同一个膜面上,光纤端面在轴向上存在一定长度的错位,此错位长度与激光器波长匹配,使正交FP腔输出的干涉信号呈正交状态;通过对干涉光束转化的电信号采用相位解调算法,分析计算出FP腔长的变化。
搜索关键词: 一种 用于 fp 干涉仪 相位 解调 正交 装置 方法
【主权项】:
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