[发明专利]一种紧凑型质子能谱测量装置在审
| 申请号： | 202010871815.2 | 申请日： | 2020-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN111948699A | 公开（公告）日： | 2020-11-17 |
| 发明（设计）人： | 闫亚东;刘霞刚;高炜;李奇;王军宁;何俊华 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01T1/36 | 分类号： | G01T1/36 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 董娜 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种紧凑型质子能谱测量装置，解决现有采用堆栈探测器对质子能谱探测，效率低且具有接触污染物风险的问题。该装置包括沿质子出射方向依次同轴设置的楔形滤片、闪烁体、成像镜头及探测器；楔形滤片的薄边厚度为0.2mm～2mm，厚边厚度为1.0mm～10mm；成像镜头采用物方远心系统；质子束入射楔形滤片，经楔形滤片能谱过滤后入射闪烁体，激发出可见光子并入射至成像镜头，成像镜头将可见光子的空间分布图像成像到探测器的像增强靶面上。楔形滤片不同厚度位置透过的质子能量不同，因而通过楔形滤片可以获得质子的连续能谱信息，实现质子能谱的高效测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 紧凑型 质子 测量 装置 | ||
【主权项】：
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