[发明专利]相移掩模的制备方法在审
申请号: | 202010876325.1 | 申请日: | 2020-08-25 |
公开(公告)号: | CN112034674A | 公开(公告)日: | 2020-12-04 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 安徽省徽腾智能交通科技有限公司泗县分公司 |
主分类号: | G03F1/26 | 分类号: | G03F1/26 |
代理公司: | 广州高炬知识产权代理有限公司 44376 | 代理人: | 洪美 |
地址: | 234300 安徽省宿州市*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 公开了一种相移掩模的制备方法,其包括,提供第一厚度的透明基板,蚀刻透明基板形成第一厚度的第一基板表面和第二厚度的第二基板表面,第一厚度和第二厚度之间的差值使得照射第一基板表面的第一光束和照射第二基板表面的第二光束具有预定相位差;在氮气气氛下于第一基板表面和第二基板表面上分别溅射金属硅化物形成具有第三厚度的第一半透明层,在氮气和氪气的混合气氛下于第一半透明层表面上溅射金属硅化物形成具有第四厚度的第二半透明层,金属与硅的比值处于二分之一至四分之一之间,其低于第一半透明层的氮含量且氮硅比值为4至8之间,第三厚度小于第四厚度,基于遮光层图案湿式蚀刻第一半透明层和第二半透明层形成半透明图案。 | ||
搜索关键词: | 相移 制备 方法 | ||
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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