[发明专利]基于频分复用的物质太赫兹波谱分析装置及分析测试方法有效

专利信息
申请号: 202010877068.3 申请日: 2020-08-27
公开(公告)号: CN111982854B 公开(公告)日: 2023-06-27
发明(设计)人: 梁晓林;邓建钦;年夫顺;姜万顺;朱伟峰 申请(专利权)人: 中电科思仪科技股份有限公司
主分类号: G01N21/3581 分类号: G01N21/3581
代理公司: 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 代理人: 朱忠范
地址: 266555 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明提供一种基于频分复用的物质太赫兹波谱分析装置及分析测试方法,属于物质太赫兹波谱分析技术领域,频分复用微波信号激励太赫兹收发模块发射太赫兹信号,并接收反射太赫兹波信号发送给计算模块;第一传输控制模块对太赫兹信号进行波束整形;第二传输控制模块对透射太赫兹波信号进行分波定向传输;频分复用本振信号激励太赫兹波探测模块探测透射太赫兹波信号发送给计算模块;计算模块对反射太赫兹波信号和透射太赫兹信号进行计算处理,得到待测物质的太赫兹波谱。本发明提升了太赫兹波谱分辨率,提高了太赫兹信号输出功率,扩大了输出功率范围;实现了透射太赫兹波谱与反射太赫兹波谱的同步采集;实现了全电子学的高分辨率太赫兹波谱分析。
搜索关键词: 基于 频分复用 物质 赫兹 波谱 分析 装置 测试 方法
【主权项】:
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