[发明专利]一种多孔径系统光瞳检测与校正方法有效
| 申请号： | 202010877902.9 | 申请日： | 2020-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN112033647B | 公开（公告）日： | 2022-08-02 |
| 发明（设计）人： | 史建亮;扈宏毅;马浩统;谢宗良 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01M11/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610209 *** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提出一种多孔径系统光瞳检测与校正方法，该方法能有效检测多孔径光束的光瞳位置，并能通过三维位移台折转调节镜组配合光瞳控制系统实现对多孔径光瞳的精密闭环调节。该方法依托的检测与校正平台，包括望远镜缩束系统(1)、三维位移台折转调节镜组(2)、合束器镜组(3)、第一分光镜(4)、第二分光镜(5)、反射镜(6)、可调缩束器(7)、探测相机(8)和光瞳控制系统(9)。该方法由单个可调缩束器和单个探测相机实现对多光瞳的检测，检测精度高且构造简易；该方法的光瞳校正与光轴校正相互解耦，闭环迭代速度快且稳定度高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 多孔 系统 检测 校正 方法 | ||
【主权项】：
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