[发明专利]用于激光器芯片的测试系统在审
| 申请号： | 202010883677.X | 申请日： | 2020-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN114113969A | 公开（公告）日： | 2022-03-01 |
| 发明（设计）人： | 徐鹏嵩;郭孝明;朱晶;王凯旋;王贤杰;顾涛;胡海洋;黄建军 | 申请（专利权）人： | 苏州联讯仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/311 |
| 代理公司： | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人： | 王健 |
| 地址： | 215011 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种用于激光器芯片的测试系统，包括机架、安装于机架上的作业载板、测试载台和至少一个测试探头，所述机架上并位于作业载板上方安装有一上罩壳，所述测试夹具包括基板、若干个测试插座、导热板、PCB板、下盖板、上盖板和若干个间隔排列的活动压头，所述下盖板上间隔开有若干个与活动压头对应的通孔，所述导热板的下表面一端设置有一测温电路板。本发明既实现了常温下对激光器芯片的批量测试，又可以在低温、高温下对激光器芯片进行批量、多参数测试，兼容性、通用性好，还提高了对温度敏感芯片的测试精度，大大提高了各个测试环境下的测试的效率、精度和测试数据的一致性、稳定性，降低测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 激光器 芯片 测试 系统 | ||
【主权项】：
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