[发明专利]一种高分子薄膜构象转变温度检测方法及系统在审
申请号: | 202010884967.6 | 申请日: | 2020-08-28 |
公开(公告)号: | CN112326590A | 公开(公告)日: | 2021-02-05 |
发明(设计)人: | 魏东山;高建魁;凌东雄;刘竞博 | 申请(专利权)人: | 东莞理工学院 |
主分类号: | G01N21/3586 | 分类号: | G01N21/3586;G01N25/00;G01K11/00 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 杨媛媛 |
地址: | 523808 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种高分子薄膜构象转变温度检测方法及系统。该方法包括:测量温控样品池的太赫兹时域光谱信号;在温控样品池的升温范围内按照第一预设间隔选取温度点测量薄膜样品的第一太赫兹时域光谱信号;根据温控样品池的太赫兹时域光谱信号以及第一太赫兹时域光谱信号,确定薄膜样品的转折温度;在转折温度的预设温度范围内按照第二预设间隔选取温度点测量薄膜样品的第二太赫兹时域光谱信号;根据温控样品池的太赫兹时域光谱信号以及第二太赫兹时域光谱信号确定薄膜样品的构象转变温度。本发明利用太赫兹时域光谱技术对高分子薄膜构象转变温度进行检测,具有快速、无标记、操作简单、适用范围广、重复性好、结果精确度高等优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 高分子 薄膜 构象 转变 温度 检测 方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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