[发明专利]一种应用于多芯片调试系统的调试信息同步方法在审
| 申请号： | 202010886862.4 | 申请日： | 2020-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN111984493A | 公开（公告）日： | 2020-11-24 |
| 发明（设计）人： | 谢超;吴滔 | 申请（专利权）人： | 思尔芯（上海）信息科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/263 | 分类号： | G06F11/263;G06F11/273 |
| 代理公司： | 北京清大紫荆知识产权代理有限公司 11718 | 代理人： | 秦亚群;冯振华 |
| 地址： | 200433 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种应用于多芯片调试系统的调试信息同步方法，包括以下步骤：S1、多芯片调试系统的各个调试芯片产生调试信息数据包；S2、各个调试芯片的调试信息数据包依照时钟周期打包成若干个标准数据包，调试芯片的各个标准数据包按照时间顺序依次打上编号为1、2、3、……、n的标签；S3、各个调试芯片的打上标签的标准数据包分别传输至调试模块内；S4、调试模块接收各个调试芯片的标准数据包，按照标准数据包上的标签进行一一对齐；S5、将对齐后的标准数据包解包，并输出至后端逻辑进行调试处理。本发明的多芯片调试系统的调试信息同步方法，能够对来自多个调试芯片的调试数据进行快速的对齐，确保调试结果的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 应用于 芯片 调试 系统 信息 同步 方法 | ||
【主权项】：
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