[发明专利]具有高深宽比体内超结的横向高压器件及其制造方法在审
| 申请号： | 202010887963.3 | 申请日： | 2020-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN111969042A | 公开（公告）日： | 2020-11-20 |
| 发明（设计）人： | 章文通;祖健;朱旭晗;何乃龙;乔明;李肇基;张波 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学;电子科技大学广东电子信息工程研究院 |
| 主分类号： | H01L29/06 | 分类号： | H01L29/06;H01L29/78;H01L29/786;H01L21/336 |
| 代理公司： | 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 | 代理人： | 敖欢 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供一种具有高深宽比体内超结的横向高压器件及其制造方法，包括：第一导电类型漂移区、深槽区域，通过深槽槽底注入形成与第二导电类型衬底相连的第二导电类型区，位于漂移区两侧的第一和第二导电类型阱区和重掺杂区，位于器件表面的控制栅多晶硅电极、第一和第二介质氧化层。所述深槽通过硬掩模层Hard Mask保护刻蚀得到，然后槽底注入得到第二导电类型区与槽底两侧的漂移区一起形成体内超结，并维持电荷平衡，优化了器件体内场，并提供体内低阻通路；超结条宽和深度由深槽刻蚀宽度和深度决定，可以得到高深宽比的体内超结结构。本发明提出的结构提优化了体内场提高器件耐压，同时供了体内低阻通路，进一步降低比导通电阻。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 高深 体内 横向 高压 器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】：
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