[发明专利]基于弱监督模式的缺陷粗定位方法和装置在审
| 申请号： | 202010888542.2 | 申请日： | 2020-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN112070733A | 公开（公告）日： | 2020-12-11 |
| 发明（设计）人： | 陈海波;许伟康 | 申请（专利权）人： | 深兰人工智能芯片研究院（江苏）有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/70;G06N3/04 |
| 代理公司： | 常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231 | 代理人： | 张励 |
| 地址： | 213000 江苏省常州市武进*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于弱监督模式的缺陷粗定位方法和装置，包括：对获取的图像按照无缺陷图像和有缺陷图像进行分类，并按照类别对图像进行弱标注；对输入图像进行数据增强处理和归一化处理；将处理后的图像输入到全卷积网络中进行训练，利用弱标注信息使ResNet‑101网络形成注意力机机制，进行弱监督训练，以对处理后的图像进行预测；当预测结果为有缺陷图像时，利用训练完全的网络中的缺陷特征和输出层的权重，计算语义特征图，并根据语义特征图得出粗定位所需的热力图；根据热力图和输入图像得到缺陷的粗略位置。本发明仅需要缺陷的类别信息，可预测出缺陷的类别，并用热力图的方式标记出缺陷的大体位置，简化了人工标注的过程、节约所需的人力和物力。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 监督 模式 缺陷 定位 方法 装置 | ||
【主权项】：
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